- 名称 X射线能谱
- 资产编号 20050443
- 型号 Genesis 200 XMS
- 规格
- 产地 美国
- 厂家 伊达克斯
- 所属品牌 伊达克斯
- 出产日期
- 购买日期 2005-12-01
- 所属单位 中国文化遗产研究院
- 使用性质 科研
- 所属分类
- 联系人 张亦弛
- 联系电话 010-84642221
- 联系邮箱 hufengdanbuct@164.com
- 放置地点 院科研楼1011室
主要规格及技术指标
与扫描电子显微镜配合使用，用于检测Be以上的所有元素，最大输入计数率可达500000，
主要功能及特色
进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。可用于高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析，可进行金属材料的相分析、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定等。
样本检测注意事项
对于委托测试的样品，首先跟测试中心的工作人员进行沟通，提供样品信息，明确样品测试条件、沟通样品状态，预约测试时间，确保在约定测试时间以前样品送达分析测试中心。对于自行测试的样品，需先预约测试时间，提供样品信息，所有上机操作人员必须获得操作资格方可独立操作仪器。操作资格认可应符合以下程序：参加文物保护修复所组织的仪器使用培训、并能正确独立操作两次以上，仪器管理人员在此过程中应予以监督考核，在确认使用者操作完全规范的前提下，由中国文化遗产研究院发放操作资格证。
设备使用相关说明
院内自测：50元/样 院内委托：60元/样 院外自测：60元/样 院外委托：120元/样